CS系列分光辐射度计
CS系列分光辐射度计配置HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探测器，基于对称式低杂散光光路设计，具有高灵敏度、低杂散光、宽动态范围、高重复性、稳定性等优点。适用于公司科研、国家地方光电实验室以及专业检测机构等。
特性：
- 配置HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探测器，基于对称式低杂散光光路设计。
- 结合独创的FCT技术。
- 结合NIST杂散光校正技术辩证。
多种型号选择满足你不同的应用需求：
工业级CS-4000，多种波长范围选择，价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化。
科研级CS-6500，采用二维阵列探测器，多种波长范围选择。像素列的叠加使得信噪比大大提升（37000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器（最低至-15 °C）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。
实验级CS-4500，采用二维阵列探测器，多种波长范围选择，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间最短达到10毫秒--有效地避免探测器饱和，而且CS-4500的信噪比可以达到4700:1，光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。
规格：
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型号 |
CS-4000 |
CS-4500 |
CS-6500 |
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探测器范围 |
300-1100纳米 |
300-1100纳米 |
300-1100纳米 |
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传感器 |
CMOS传感器 |
热电制冷面阵CCD（薄型背照式） |
热电制冷面阵CCD（薄型背照式） |
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像素 |
3648像素 |
2048*64像素 |
1024×64像素 |
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波长范围 |
350-850纳米 |
350-1050纳米 |
360-930纳米 |
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信噪比 |
300：1全光谱 |
4700：1全光谱 |
37000:1全光谱 |
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A/D分辨率 |
16位 |
16位 |
16位 |
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积分时间 |
3.8毫秒-10秒 |
10毫秒-65秒 |
8毫秒-65分钟 |
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制冷 |
—- |
0° |
-10° |
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杂散光 |
<0.05% |
<0.05% |
<0.05% |
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校正线性度 |
>99.8% |
>99.8% |
>99.8% |
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色温范围 |
1500-35000K |
1500-35000k |
1500-35000K |
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亮度范围* |
0.1~100000cd/m^2 |
0.005~100000cd/m^2 |
0.001~100000cd/m^2 |
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亮度精度 |
+/-2%（@标准A光源） |
+/-2%（@标准A光源） |
+/-2%（@标准A光源） |
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亮度重复性 |
+/-0.1%（@标准A光源） |
+/-0.1%（@标准A光源） |
+/-0.1%（@标准A光源） |
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色度精度 |
±0.0003（标准A光源） |
±0.0003(标准A光源) |
±0.0003(标准A光源) |
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色度重复性 |
+/-0.0002（@标准A光源） |
+/-0.0002（@标准A光源） |
+/-0.0002（@标准A光源） |
*亮度范围视使用探头或光斑大小而定。
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。