VA-70NIR锥光成像分析仪
VA-70NIR锥光成像分析仪配置覆盖±70°大视角锥光镜头，可测量500-1100nm波长范围的发射器辐射强度的角度分布，搭配ProICM专业分析软件，同时获取多种视角测量数据，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果，确保受测设备的使用性能，提升产能效益。
特征：
- 配置2500万像素分辨率探测器，搭载±70°大视角锥光镜头。
- 可测量500-1100nm波长范围的发射器辐射强度的角度分布。
- 选配的滤光片轮可对多种波长进行检测。
- 内置图像缓冲内存和千兆网接口可实现高速测量和数据传输。
- 潜心开发的ProICM专业分析软件为测试者提供最佳的软件环境，自动化输出测试结果，满足各种深度分析的需求。
应用：
● 人脸识别传感器
● 3D传感器
● TOF结构光激光器
● VCSEL
● 近红外发射器
规格：
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型号 |
VA-70NIR |
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探测器 |
23*23mm |
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总像素 |
2621万 |
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像素分辨率 |
5120*5120 |
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测量功能 |
辐射强度、辐射通量、角度分布 |
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曝光时间 |
80us~10sec |
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波长范围 |
500-1100nm之间各种单波长 |
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滤光片 |
单个波长滤光片或多个波长滤光片 |
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角度分辨率 |
0.039° |
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测量直径 |
4mm |
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测量距离 |
3mm |
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视角范围 |
±70° |
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尺寸 |
180*180*453mm(含镜头长度) |
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接口 |
LAN、Trigger |
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工作温度 |
10~40°C |
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供电电压 |
AC电源适配器 |
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。